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Text for graduate students explains how to determine material properties and parameters for inaccessible substrates and unknown films as well as how to measure extremely thin films. 1993 edition.

Mit Hilfe der Ellipsometrie mißt man Dicken und optische Eigenschaften dünner Filme. In den vergangenen Jahren hat die ellipsometrische Spektroskopie ebenso wie die eng verwandte Reflektometrie zunehmend die Industrielabors erobert. Dies schafft Bedarf an einer praxisnahen Einführung für ein interdisziplinäres Publikum von Materialwissenschaftlern, Physikern, Chemikern und Elektrotechnikern, wie sie mit diesem Buch gelungen ist. (04/99)

Ellipsometry is an experimental technique for determining the thickness and optical properties of thin films. It is ideally suited for films ranging in thickness from sub-nanometer to several microns. Spectroscopic measurements have greatly expanded the capabilities of this technique and introduced its use into all areas where thin films are found: semiconductor devices, flat panel and mobile displays, optical coating stacks, biological and me...